Предметная лаборатория, созданная на базе МОУ лицей № 31 г. Челябинска, имеет в своем составе сканирующий мультимикроскоп СММ-2000. Лицей № 31 готов предоставить другим образовательным учреждениям возможность использования данного микроскопа для выполнения научно-исследовательских работ.
 Если у вас есть желание выполнить исследовательскую работу с использованием микроскопа, то вам необходимо обсудить вашу идею и возможность её реализации с заведующим кафедры экспериментальной физики лицея № 31 Фокиным Андреем Владимировичем. Обсуждение происходит на форуме в специальном разделе.

Технические характеристики и возможности микроскопа:
Максимальный размер образца: 10х7х2 мм
Два режима работы: сканирующий туннельный микроскоп (СТМ) и атомно-силовой микроскоп (АСМ)
Максимальные размеры сканируемого участка поверхности 15/15 мкм с максимальным перепадом высот 2 мкм.
Разрешение в режиме СТМ 0,3 нм, а в режиме АТМ 2 нм
С помощью микроскопа можно осуществлять контроль качества поверхности (можно определять размеры зерен на поверхности твердых тел). Микроскоп позволяет изучать структуру поверхности компакт-дисков, микросхем и т.д. Кроме того, с помощью микроскопа имеется возможность изучения процесса деградации поверхности какого-либо материала с течением времени.
Программное обеспечение микроскопа «Scan Master», кроме сканирования и двух-/трёх – мерного просмотра кадров в редактируемых палитрах, производит практически все возможные виды обработки и анализа кадров и является наиболее полнофункциональным пакетом для зондовой микроскопии, применяемым и для микроскопов других видов и других производителей.
Описание всех функций обработки кадров (процентильная, медианная, матричная, конволюция, гауссовы и сдвиговые фильтры, междукадровая арифметика, сшивка кадров, спецфункции устранения наклона кадров и сбоев иглы, вычитания N-мерной функции подложки, вычленения мелких деталей и др.), а также всех видов анализа изображений (Фурье, полный морфологический, корреляционный, автокорреляционный, фрактальный, анализ параметров шероховатости, гистограмм высот и др.) – находится во встроенной контекстно-зависимой функции Help.

Дополнительную информацию по работе с микроскопом можно найти:
1. www.ntmdt.ru - рассмотрены режимы работы зондовых микроскопов, имеется галерея сканов, приведены примеры использования зондовых микроскопов в различных областях науки и техники.
2. www.nanometer.ru - на сайте представлены материалы по современным проблемам нанотехнологий, имеется галерея сканов, проводятся олимпиады и т.д.
3. www.nanotech.ru - сайт концерна «Наноиндустрия», описаны туннельные микроскопы, различная информация о нанотехе и др.
4.nanotech.iu4.bmstu.ru - на сайте есть примеры исследовательских работ школьников.